開発秘話:DRAM酸化膜エッチング装置の開発 [SEMI News]

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 SEMI News 2005年11-12月号 24~25頁 DRAM酸化膜エッチング装置の開発

 【上記の記事に含まれる主要な用語】

東京エレクトロン, 田原好文, 平行平板プラズマエッチング, TE580, TE5000, 異方性エッチング,  マグネトロンエッチング, MRIE, 酸化膜, Poly, Al, 選択比, 主ガス, CHF3, 添加ガス, CO, チャージングダメージ,  DRM, Dipole Ring Magnet, ExHドリフト, コンタクトホール, SAC, セルフ・アライン・コンタクト, 窒化膜, ストッパー膜,  プロセスガス, COプロセス, 堀内隆夫, 奥村勝弥,


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